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?轉移特性曲線和輸出特性曲線詳解-KIA MOS管

信息來源:本站 日期:2025-09-11 

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轉移特性曲線和輸出特性曲線詳解-KIA MOS管


mos管特性曲線

轉移特性曲線,輸出特性曲線

輸出特性曲線:N溝道增強型MOS管的輸出特性曲線如圖1a所示。與結型場效應管一樣,其輸出特性曲線也可分為可變電阻區、飽和區、截止區和擊穿區幾部分。

轉移特性曲線:轉移特性曲線如圖1b所示,由于場效應管作放大器件使用時是工作在飽和區(恒流區),此時iD幾乎不隨vDS而變化,即不同的vDS所對應的轉移特性曲線幾乎是重合的,所以可用vDS大于某一數值(vDS>vGS-VT)后的一條轉移特性曲線代替飽和區的所有轉移特性曲線。

轉移特性曲線分析

轉移特性曲線,輸出特性曲線

說明的是柵極電壓VGS對ID的控制作用。

從上圖曲線可知:

1、測試條件:VDS=20V;

2、VGS的開啟電壓VGS(th),約5V,且隨著溫度的升高而降低;

3、VGS需要達到10V以上,才能完全導通,達到其最大標稱ID;4、VGS越大,ID才能越大,溫度越高,ID越小;

輸出特性曲線分析

轉移特性曲線,輸出特性曲線

1、夾斷區(截止區)

此區域內,VGS未達到VGS(th),MOS管不導通,即ID基本為零;

2、可變電阻區

此區域內,ID-VDS基本維持線性比例關系,斜率即為MOSFETQ的導通電子Rds(on)。

3、飽和區

此區域內,ID不再隨著VDS的增大而增大。說明ID已經飽和了。

4、擊穿區

此區域內,因VDS過大,MOSFET被擊穿損壞。

當MOSFET工作在開關狀態時,隨著VGS的通/斷,MOSFET是在截止區和可變電阻區來回切換的,在切換過程中可能會經過飽和區。當MOSFET工作于飽和區時,可以用來通過控制VGS的電壓來控制電流ID,將MOSFET用于實現上電軟啟動電路。

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